High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

Изчерпано количество

Бъдете първият оценил този продукт

Продуктът не е наличен Запиши се за известие при зареждане

410,90 лв.

Описание

Информация за доставка

Връщане

Коментари

The application of electronic materials has created a demand for reliable techniques for examining these materials. This book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research. It provides the background for applying these techniques.

Виж повече

Информация за "High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography"

SKU 9780850667585
Weight 0.656000
ISBN 9780850667585

Вид корица Hardback
Издателство Taylor & Francis Ltd
Брой страници 264

Доставка до твой адрес

При теб до 3 работни дни
Цена за доставка с куриер - 4.90 лв.
Безплатна доставка
(за поръчка над 49.80 лв.)

Доставка до офис на куриер

Цена за доставка до офис - 4.90 лв.
По-кратък срок за доставка

Доставка до магазин на Orange Center

Доставката до магазин е безплатна!

Онлайн магазин orangecenter.bg уверява своите клиенти, че съгласно чл. 55, ал.1 от Закона за защита на потребителите, имат правото да се откажат / или заменят получена от тях стока в срок от 14 (четиринадесет) работни дни от датата на получаване на стоката САМО при условие, че продукта е:

- в оригиналният си вид и качествени характеристики, със запазена оригинална опаковка и етикет, като не се счита за повредена опаковката, цялостта на която е била нарушена по начин, единствено позволяващ отделянето й от стоката.

- без следи от употреба (скъсване, надраскване, счупване или други повреди), както и няма други повреди, причинени от неправилна употреба.

Повече информация за връщане и замяна на стока ще намерите ТУК.

High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

The information below is required for social login

Забравена парола