Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy

Изчерпано количество

Бъдете първият оценил този продукт

Продуктът не е наличен Запиши се за известие при зареждане

84,90 лв.

Описание

Информация за доставка

Връщане

Коментари

This is a clear account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Written by leading experts, it provides a comprehensive review of scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and scanning transmission electron microscopy, together with details of each technique and its applications.

Виж повече

Информация за "Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy"

SKU 9780521031707
Weight 0.669000
ISBN 9780521031707

Вид корица Paperback / softback
Издателство Cambridge University Press
Брой страници 408

Доставка до твой адрес

При теб до 3 работни дни
Цена за доставка с куриер - 4.90 лв.
Безплатна доставка
(за поръчка над 49.80 лв.)

Доставка до офис на куриер

Цена за доставка до офис - 4.90 лв.
По-кратък срок за доставка

Доставка до магазин на Orange Center

Доставката до магазин е безплатна!

Онлайн магазин orangecenter.bg уверява своите клиенти, че съгласно чл. 55, ал.1 от Закона за защита на потребителите, имат правото да се откажат / или заменят получена от тях стока в срок от 14 (четиринадесет) работни дни от датата на получаване на стоката САМО при условие, че продукта е:

- в оригиналният си вид и качествени характеристики, със запазена оригинална опаковка и етикет, като не се счита за повредена опаковката, цялостта на която е била нарушена по начин, единствено позволяващ отделянето й от стоката.

- без следи от употреба (скъсване, надраскване, счупване или други повреди), както и няма други повреди, причинени от неправилна употреба.

Повече информация за връщане и замяна на стока ще намерите ТУК.

Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy

The information below is required for social login

Забравена парола