Търсене
10.231.71.16-34.201.9.19

Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy

84.9 BGN
Цена: 84.90 лв.
Няма наличност
Доставка до твой адрес
  • При теб до 14 работни дни (доставка от UK)
  • Книгата е налична на склад при доставчик в Англия (*важи за продукти със статус "В наличност")
  • Стойността на доставката се начислява допълнително при финализиране на поръчката!
  • Подробности за поръчка на Книги на чужд език ще откриеш ТУК>>
This is a clear account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Written by leading experts, it provides a comprehensive review of scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and scanning transmission electron microscopy, together with details of each technique and its applications.
Върни се горе и купи

Информация за “Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy”

  • Книга - година 2006 г.
  • Корица Paperback / softback
  • Тегло 0.67 кг.
  • Размери 243 x 168 x 21

Няма написани коментари - напиши първия коментар от тук.

Напиши коментар

Попълни формата по-долу:

Оценка
Най-ниската е 1, най-високата 5
Ще харесаш още
Interplanetary Dust Interplanetary Dust 2012 г.
Цена: 285.90 лв.
Airless Bodies of the Inner Solar System Airless Bodies of the Inner Solar System 2018 г.
Цена: 203.90 лв.
Special Relativity Special Relativity 2014 г.
Цена: 185.90 лв.
Atomic Orbitals Atomic Orbitals 1997 г.
Цена: 126.90 лв.